Semicera tərəfindən Silicon Carbide Dummy Gofre, bugünkü yüksək dəqiqlikli yarımkeçirici sənayesinin tələblərinə cavab vermək üçün hazırlanmışdır. Fövqəladə davamlılığı, yüksək istilik sabitliyi və üstün təmizliyi ilə tanınırgofretyarımkeçiricilərin istehsalında sınaq, kalibrləmə və keyfiyyət təminatı üçün vacibdir. Semicera-nın Silicon Carbide Dummy Gofresi misilsiz aşınma müqavimətini təmin edərək, onun tənəzzül olmadan ciddi istifadəyə tab gətirə bilməsini təmin edərək, onu həm Ar-Ge, həm də istehsal mühitləri üçün ideal hala gətirir.
Müxtəlif tətbiqləri dəstəkləmək üçün nəzərdə tutulmuş Silicon Carbide Dummy Wafer tez-tez aşağıdakı proseslərdə istifadə olunur.Si Wafer, SiC Substrat, SOI vaflisi, SiN Substrat, vəEpi-vaflitexnologiyalar. Onun üstün istilik keçiriciliyi və struktur bütövlüyü onu qabaqcıl elektron komponentlərin və cihazların istehsalında geniş yayılmış yüksək temperaturda emal və işləmə üçün əla seçim edir. Bundan əlavə, vaflinin yüksək təmizliyi çirklənmə risklərini minimuma endirərək həssas yarımkeçirici materialların keyfiyyətini qoruyur.
Yarımkeçiricilər sənayesində Silicon Carbide Dummy Wafer, Gallium Oxide Ga2O3 və AlN Wafer daxil olmaqla, yeni material testləri üçün etibarlı istinad vaflisi kimi xidmət edir. Bu yaranan materiallar müxtəlif şərtlərdə sabitlik və performansını təmin etmək üçün diqqətlə təhlil və sınaq tələb edir. Semicera-nın dummy gofretindən istifadə etməklə istehsalçılar yüksək güclü, RF və yüksək tezlikli tətbiqlər üçün yeni nəsil materialların inkişafına kömək edərək, performans ardıcıllığını qoruyan sabit platforma əldə edirlər.
Sənayelər Arasında Tətbiqlər
• Yarımkeçiricilərin istehsalı
SiC Dummy Gofres yarımkeçirici istehsalında, xüsusən istehsalın ilkin mərhələlərində vacibdir. Onlar qoruyucu maneə rolunu oynayır, silikon vafliləri potensial zədələrdən qoruyur və prosesin dəqiqliyini təmin edir.
•Keyfiyyət Təminatı və Test
Keyfiyyət təminatında SiC Dummy Wafers çatdırılma yoxlamaları və proses formalarının qiymətləndirilməsi üçün çox vacibdir. Onlar istehsal proseslərinin təsdiqinə töhfə verərək, film qalınlığı, təzyiq müqaviməti və əksetmə indeksi kimi parametrlərin dəqiq ölçülməsinə imkan verir.
•Litoqrafiya və Naxışların yoxlanılması
Litoqrafiyada bu vaflilər naxış ölçüsünün ölçülməsi və qüsurların yoxlanılması üçün meyar rolunu oynayır. Onların dəqiqliyi və etibarlılığı yarımkeçirici cihazın funksionallığı üçün vacib olan istənilən həndəsi dəqiqliyə nail olmağa kömək edir.
•Tədqiqat və İnkişaf
Ar-Ge mühitlərində SiC Dummy Wafers-in çevikliyi və davamlılığı geniş təcrübəni dəstəkləyir. Onların ciddi sınaq şərtlərinə dözmək qabiliyyəti onları yeni yarımkeçirici texnologiyaların inkişafı üçün əvəzolunmaz edir.
